Online junction temperature monitoring via breakdown voltage for avalanche ruggedness evaluation in silicon carbide metal oxide semiconductor field effect transistors

作者
T. Luo,Zaiman Xiang,Gerald Z. Yin,Zezhan Li,Xueliang Wang,Wei Du,Xiaoyan Xu,Jianjun Zhuang,Jiajie Fan
出处
期刊:Applied Thermal Engineering [Elsevier BV]
卷期号:281: 128533-128533
标识
DOI:10.1016/j.applthermaleng.2025.128533
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