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作者
Roman A. Melnyk,Ruslan Tushnytskyy
出处
期刊：2020 IEEE 15th International Conference on Advanced Trends in Radioelectronics, Telecommunications and Computer Engineering (TCSET)
日期：2020-02-01
卷期号：: 961-964
被引量：19
标识
DOI：10.1109/tcset49122.2020.235580
摘要
The K-mean clustering algorithm was implemented to find the PCB defects. Special procedure for image comparison was developed. Clustering helps not to notice small shifting and deviation of routine paths and contacts sizes and coordinates.
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