Evaluation of polishing induced subsurface damage in InAs substrates by an acid solution etching method

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作者
Yinhong Feng,Guiying Shen,Youwen Zhao,Jingming Liu,Jun Yang,Hui Xie,Jian‐Jun He
出处
期刊:Materials Science in Semiconductor Processing [Elsevier BV]
卷期号:167: 107770-107770 被引量:7
标识
DOI:10.1016/j.mssp.2023.107770
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