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作者
Bobo Zou,Wei Zhang,Yingxue Cui,Sheng Li,Guochun Li,Xianhu Liu,Dickon H. L. Ng,Jingxia Qiu,Jiabiao Lian
摘要
A built-in electric field (BIEF) is induced at the interface of TMOs/TMNs nano-heterojunctions, which is responsible for high Li + adsorbability and low Li + diffusion barrier. Such interfacial effects endow the TMOs/TMNs with high-rate Li + storage.
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