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出处
期刊:
日期:2009-12-01
被引量:186
标识
DOI:10.1109/iedm.2009.5424409
摘要
A 45 nm generation PCM technology with an effective cell as small as 0.015 ¿m 2 has been developed on a 1 Gb product. Good electrical properties and reliability results are reported, confirming that PCM has reached the maturity to become a mainstream technology for high density non-volatile memory applications.
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