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作者
Rimei Chen,Sai Bharadwaj Vishnubhotla,Tevis D. B. Jacobs,Ashlie Martini
出处
期刊:Nanoscale
[Royal Society of Chemistry]
日期:2018-12-11
卷期号:11 (3): 1029-1036
被引量:6
摘要
Atomistic simulations provide an approach to correcting the error in contact-area measurements from conductive atomic force microscopy for platinum with a thin insulating layer.
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