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作者
Dong Zheng,Christopher N. Young,William F. Stickle
摘要
Hard x-ray photoelectron spectroscopy using monochromatic Cr Kα radiation (5414.8 eV) has been used to acquire XPS and Auger data on sputtered In, Sn, and ITO samples. Survey data, high-resolution scans of all observed photoelectron peaks, and high-resolution scans of Auger lines are presented herein.
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