光刻胶
材料科学
图层(电子)
光学
衍射
涂层
衍射光栅
光电子学
反射率
衍射效率
表面粗糙度
表面光洁度
复合材料
栅栏
物理
作者
J. A. Dobrowolski,Daniel Poitras,Tom Cassidy,C. Midwinter
出处
期刊:
日期:2001-01-01
卷期号:: ThC2-ThC2
标识
DOI:10.1364/oic.2001.thc2
摘要
A black layer coating for an Al/photoresist interface is described with a reflectance less than 0.1% for 413 nm s-polarized light incident at 25º. It is made of space-compatible materials and its RMS roughness is less than 15Å.
科研通智能强力驱动
Strongly Powered by AbleSci AI