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作者
Matthew R. Belz,Zhengqi Xu,Hsiang-Wen Chen,Seungheun Song,Michael P. Flynn
出处
期刊：IEEE Journal of Solid-state Circuits
[Institute of Electrical and Electronics Engineers]
日期：2025-01-01
卷期号：: 1-11
标识
DOI：10.1109/jssc.2025.3549690
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