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Investigation on Electrical–Thermal-Stress Failure of GaN HEMTs Under High-Power Microwave-Induced Pulse Injection 9小时前 求助中
Study on the Influence of Strong Electromagnetic Pulse on GaAs HEMT Devices 5个月前 已完结
Single-Event Burnout Hardening in p-GaN HEMTs: An Embedded Polarization-Modulated Composite Barrier Layer Approach1 5个月前 已完结

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感谢 5个月前
标题错误，与所求文章不符 5个月前

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