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Total Ionizing Dose Retention Capability of Conductive Bridging Random Access Memory |
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Yago Gonzalez-Velo; Hugh J. Barnaby; Michael N. Kozicki; Chakravarthy Gopalan; Keith Holbert 出版日期:2014-02-01 |
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(2025-6-4)