| 标题 |
Memory Window and Endurance Improvement of Hf0.5Zr0.5O2-Based FeFETs with ZrO2 Seed Layers Characterized by Fast Voltage Pulse Measurements |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Nanoscale Res Lett 作者:Xiao W, Liu C, Peng Y, Zheng S, Feng Q, Zhang C, Zhang J, Hao Y, Liao M, Zhou Y 出版日期:2019-07-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)