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Resolution enhancement for high-numerical aperture extreme ultraviolet lithography by split pupil exposures: a modeling perspective 相关领域
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期刊:Journal of Micro/Nanopatterning Materials and Metrology 作者:Andreas Erdmann; Hazem Mesilhy; Peter Evanschitzky; Gerardo Bottiglieri; Tim Brunner; et al 出版日期:2024-10-08 |
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