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Compact Physics Hot-Carrier Degradation Model Valid over a Wide Bias Range 紧凑物理热载流子退化模型在宽偏压范围内有效
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期刊:Micromachines 作者:Stanislav Tyaginov; E. Bury; Alexander Grill; Zhuoqing Yu; Alexander Makarov; et al 出版日期:2023-10-30 |
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