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A study of the mechanism of the growth and shrinkage of stacking fault tetrahedra using the fluctuation of their size under electron irradiation 利用电子辐照下层错四面体尺寸的起伏研究层错四面体的生长和收缩机制
相关领域
四面体
叠加断层
收缩率
堆积
材料科学
辐照
电子
机制(生物学)
复合材料
结晶学
化学
核磁共振
位错
物理
核物理学
量子力学
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| 其它 |
期刊:Journal of Electron Microscopy 作者:Kazuto Arakawa; Shigeo Arai; Hiroshi Orihara; K. Ono; Michio Kiritani 出版日期:2002-03-27 |
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