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Nanometer-thick TiO2 channel thin film transistors as radical monitors for plasma enhanced atomic layer deposition 相关领域
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films 作者:K. Yamano; Hibiki Takeda; Ryo Miyazawa; Masanori Miura; Bashir Ahmmad; et al 出版日期:2024-11-13 |
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