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Neutron Irradiation Damage Effects on the Ag:Ta 2 O 5 -Based High Speed Threshold Switching Memristors 相关领域
记忆电阻器
材料科学
光电子学
辐照
中子
通量
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电压
辐射
中子通量
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可靠性(半导体)
X射线光电子能谱
中子辐照
高压
辐射硬化
电容器
电阻随机存取存储器
功率(物理)
电子工程
辐射损伤
切换时间
光谱学
电气工程
空位缺陷
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:Linyan Yao; Hongjia Song; Chuan Ma; Anan Ju; Zhao Fu; et al 出版日期:2025-11-07 |
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