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![]() 3D到2D视角——纳米级的传统和新掺杂和计量挑战
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期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Маргарита Георгиева; Nikolay Petkov; Ray Duffy 出版日期:2023-05-15 |
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Reni
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2025-08-18 20:48:57 发布,悬赏 10 积分
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