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Coupling effect of thermomigration and cross-interaction on evolution of intermetallic compounds in Cu/Sn/Ni ultrafine interconnects undergoing TLP bonding |
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期刊:Journal of Materials Research 作者:Yi Zhong; Ning Zhao; Wei Dong; Haitao Ma; Mingliang Huang; et al 出版日期:2017-05-15 |
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