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 Visualizing Interfacial Charge Trapping in a Heterostructure of a Monolayer Metal–Organic Framework on a van der Waals Substrate 相关领域
单层
化学
范德瓦尔斯力
密度泛函理论
基质（水族馆）
化学物理
扫描隧道显微镜
异质结
费米能级
双层
光谱学
石墨烯
双层石墨烯
量子隧道
凝聚态物理
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超级电容器
电子结构
光电子学
电荷密度
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期刊：Journal of the American Chemical Society 作者：H. M. Chen; Yuantao Chen; Songyu Mo; En Li; Yifan Gao; et al 出版日期：2026-02-06 |
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