| 标题 |
 Bias in sensitivity and specificity caused by data-driven selection of optimal cutoff values: mechanisms, magnitude, and solutions 相关领域
切断
样本量测定
统计
灵敏度（控制系统）
震级（天文学）
尤登J统计
选择偏差
数学
样品（材料）
取样偏差
选择（遗传算法）
接收机工作特性
计量经济学
计算机科学
物理
工程类
电子工程
热力学
人工智能
量子力学
天文
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| DOI |
10.1373/clinchem.2007.096032
doi
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| 其它 |
期刊：Clin Chem 作者：Leeflang MM, Moons KG, Reitsma JB, Zwinderman AH 出版日期：2008-02-07 |
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