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 Detection of Defects in Printed Circuit Boards by Clustering the Etalon and Defected Samples 相关领域
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期刊：2020 IEEE 15th International Conference on Advanced Trends in Radioelectronics, Telecommunications and Computer Engineering (TCSET) 作者：R.A. Melnyk; R.B. Tushnytskyy 出版日期：2020-02-01 |
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