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 Factors that control stability, variability, and reliability issues of endurance cycle in ReRAM devices: A phase field study 相关领域
电阻随机存取存储器
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Arijit Roy; Min-Gyu Cho; Pil‐Ryung Cha 出版日期：2022-05-10 |
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