| 标题 |
[高分]
Explainable AI for domain experts: a post Hoc analysis of deep learning for defect classification of TFT–LCD panels 相关领域
可解释性
人工智能
可靠性(半导体)
计算机科学
领域(数学)
领域(数学分析)
机器学习
决策树
深度学习
相关性(法律)
数据挖掘
液晶显示器
黑匣子
模式识别(心理学)
工程类
数学
功率(物理)
量子力学
操作系统
法学
数学分析
政治学
纯数学
物理
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期刊:Journal of Intelligent Manufacturing 作者:Minyoung Lee; Joohyoung Jeon; Hong-Chul Lee 出版日期:2021-03-26 |
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