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Analysis of Traps Behavior Related to Body-Biased Hot Carrier Degradation in 14 nm nFinFETs 14 nm nFinFETs中与体偏压热载流子退化相关的陷阱行为分析
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Xianghui Li; Chengkang Tang; Yi Gu; Chao Xin; Chen Wang; et al 出版日期:2023-11-06 |
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