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  Toward Ideal Low‐Frequency Noise in Monolayer CVD MoS2 FETs: Influence of van der Waals Junctions and Sulfur Vacancy Management 相关领域
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期刊：Advanced Science 作者：Wonjun Shin; Junsung Byeon; Ryun‐Han Koo; Jungmoon Lim; Jung Hyeon Kang; et al 出版日期：2024-05-22 |
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