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 Proton Radiation Effects on 6T CMOS Image Sensors With Standard and Binning Mode 相关领域
CMOS芯片
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期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：Mingyu Liu; Bingkai Liu; Lin Wen; Jie Feng; Zitao Zhao; et al 出版日期：2026-09-01 |
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