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Wafer-Scale Characterization of a Superconductor Integrated Circuit Fabrication Process, Using a Cryogenic Wafer Prober 使用低温晶片探测器的超导集成电路制造工艺的晶片尺度表征
相关领域
薄脆饼
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期刊:IEEE Transactions on Applied Superconductivity 作者:Joshua T. West; A. Kurlej; Alex Wynn; Chad S. Rogers; M.A. Gouker; et al 出版日期:2022-05-05 |
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