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 Estimation of Short Circuit Capability of GaN HEMTs Using Transient Measurement 相关领域
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Injun Hwang; Soogine Chong; Dong‐Chul Shin; Sun-Kyu Hwang; Younghwan Park; et al 出版日期：2021-06-18 |
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