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Accelerating the Recovery of p-Gate GaN HEMTs after Overvoltage Stresses 相关领域
过电压
材料科学
高电子迁移率晶体管
光电子学
晶体管
电压
氮化镓
电气工程
电容器
工程类
纳米技术
图层(电子)
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| 其它 |
期刊:2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者:Joseph P. Kozak; Qihao Song; Jingcun Liu; Ruizhe Zhang; Qiang Li; et al 出版日期:2022-03-01 |
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(2025-6-4)