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 Comparative Investigation on Aging Precursor and Failure Mechanism of Commercial SiC MOSFETs Under Different Power Cycling Conduction Modes 不同功率循环导电模式下商用SiC MOSFET老化前驱体及失效机制的比较研究
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期刊：IEEE Transactions on Power Electronics 作者：Mei Wang; Yuan Chen; Zhiyuan He; Zhaohui Wu; Bin Li 出版日期：2023-03-16 |
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