| 标题 |
Controlled Surface Polarity and Crystallinity of Gallium Nitride on Si (111) Using Atomic Layer Deposition for Selective Wet-Etch and STEM Analysis 相关领域
结晶度
原子层沉积
材料科学
图层(电子)
极性(国际关系)
沉积(地质)
原子层外延
化学工程
纳米技术
化学
复合材料
细胞
生物
生物化学
古生物学
沉积物
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:ECS Meeting Abstracts 作者:SeongUk Yun; Andrew C. Kummel; Kesong Wang 出版日期:2024-11-22 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)