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Oxygen Defects and Instability in Very Thin a‐IGZO TFTs 超薄a-IGZO薄膜晶体管中的氧缺陷和不稳定性
相关领域
材料科学
不稳定性
氧气
无定形固体
凝聚态物理
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氧化物
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费米能级
浅层供体
化学物理
热传导
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非晶半导体
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能量(信号处理)
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期刊:Advanced Electronic Materials 作者:Hanjun Cho; Masatake TSUJI; Shigenori Ueda; Jung-Hwan Kim; Hideo Hosono 出版日期:2025-07-07 |
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