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![]() 用于高频应用的双埋氧化层陷阱丰富衬底
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Massinissa Nabet; Martin Rack; Yiyi Yan; Bich-Yen Nguyen; Jean‐Pierre Raskin 出版日期:2023-02-09 |
求助人 |
空辰
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