| 标题 |
 Probing ultrathin film continuity and interface abruptness with x-ray photoelectron spectroscopy and low-energy ion scattering 相关领域
薄膜
X射线光电子能谱
材料科学
原子层沉积
氮化钽
基质（水族馆）
微电子
图层（电子）
分析化学（期刊）
低能离子散射
散射
物理气相沉积
碳膜
沉积（地质）
纳米技术
光电子学
光学
化学工程
化学
沉积物
色谱法
古生物学
工程类
地质学
物理
海洋学
生物
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 作者：Wenyu Zhang; Rambert K. Nahm; Paul F. Ma; James R. Engstrom 出版日期：2013-07-04 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Kao
GingerF
arniu2008
明亮尔蓝
十三
施含莲
OK
大力的冬萱
yyds
pluto
神勇映安
ming2026
cx
殷勤的紫槐
cdercder
MchemG
嘻嘻哈哈
LuciusLLLX
南柯
Oracle
皖公网安备34019202002308
