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 Electrical overstress effect characterization on Power MOS Trenchfet and correlation with time dependent dielectric breakdown 相关领域
随时间变化的栅氧化层击穿
材料科学
晶体管
介电强度
可靠性（半导体）
栅氧化层
表征（材料科学）
光电子学
外推法
MOSFET
电力电子
电子工程
电气工程
电介质
功率（物理）
工程类
纳米技术
物理
电压
数学分析
量子力学
数学
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