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Profiling a Low Emissivity Glass Coating with ToF‐SIMS and Machine Learning 用ToF-SIMS和机器学习分析低发射率玻璃涂层
相关领域
材料科学
二次离子质谱法
仿形(计算机编程)
涂层
表征(材料科学)
发射率
薄膜
电介质
纳米技术
光电子学
质谱法
计算机科学
光学
物理
操作系统
量子力学
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期刊:Advanced Materials Interfaces 作者:Sarah E. Bamford; Robert T. Jones; Wil Gardner; Benjamin W. Muir; David A. Winkler; Paul J. Pigram 出版日期:2023 |
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