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Analysis of Degradation Mechanism in Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors under Dynamic Off-State Stress with Fast Transition Time 快过渡时间动态关态应力下多晶硅薄膜晶体管的退化机理分析
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期刊:Physica Scripta 作者:Yunyang Wang; Zhendong Jiang; Lanrong Zou; Meng Zhang 出版日期:2024-10-21 |
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