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 Analysis of Degradation Mechanism in Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors under Dynamic Off-State Stress with Fast Transition Time 快过渡时间动态关态应力下多晶硅薄膜晶体管的退化机理分析
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期刊：Physica Scripta 作者：Yunyang Wang; Zhendong Jiang; Lanrong Zou; Meng Zhang 出版日期：2024-10-21 |
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糊涂的白梦
在
2025-08-29 10:12:19 发布，悬赏 10 积分
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