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 Sequential V ce(T) Method for the Accurate Measurement of Junction Temperature Distribution Within Press-Pack IGBTs 序贯V ce(T)法精确测量压装IGBT结温分布
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期刊：IEEE Transactions on Power Electronics 作者：Yiming Zhang; Erping Deng; Zhibin Zhao; Jie Chen; Yushan Zhao; et al 出版日期：2020-09-18 |
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