| 标题 |
Effect of reactive ion etching–generated sidewall roughness on propagation loss of buried-channel silica waveguides |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:M. V. Bazylenko; M. Gross; M. Faith 出版日期:2002-07-26 |
| 求助人 | |
| 下载 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)