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 The sensitivity analysis of geometric parameters on the power cycling reliability of bond wires 键合线几何参数对功率循环可靠性的敏感性分析
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Luhong Xie; Erping Deng; Dianjie Gu; Hao Liu; Ying Zhang; et al 出版日期：2024-08-31 |
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