Traps and radio-frequency characterization of polysilicon layer on high resistivity silicon substrate

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标题	Traps and radio-frequency characterization of polysilicon layer on high resistivity silicon substrate
网址	https://doi.org/10.1016/j.sse.2025.109269
DOI	10.1016/j.sse.2025.109269 doi
其它	期刊：Solid-state Electronics 作者：Eric Vandermolen; Philippe Ferrandis; F. Allibert; E. Augendre; Massinissa Nabet; et al 出版日期：2025-10-25
求助人	背后妙旋在 2026-10-28 14:42:48 发布自江苏，悬赏 10 积分
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