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 In Situ TEM Observation of Electron‐Beam‐Induced Microstructural Evolution in van der Waals Layered Magnetic CrSBr Semiconductor 相关领域
材料科学
范德瓦尔斯力
拉曼光谱
透射电子显微镜
高分辨率透射电子显微镜
原子单位
半导体
X射线光电子能谱
纳米技术
分子物理学
光电子学
光学
核磁共振
化学
量子力学
物理
有机化学
分子
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| 其它 |
期刊：Advanced electronic materials 作者：Hao‐Wen Deng; Yi‐Tang Tseng; Mu‐Pai Lee; Yen‐Fu Lin; Wen‐Wei Wu 出版日期：2022-11-22 |
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