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 Observation of Channel Strain Release in pMOS Device with Low Idsat Using Energy-Filtered Nano-Beam Diffraction Technique 低Idsat pMOS器件沟道应变释放的能量过滤纳米束衍射观测
相关领域
PMOS逻辑
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期刊：Proceedings 作者：Jie Zhu; An Du; Bing Hai Liu; E. Er; Sizheng Steven Zhao; et al 出版日期：2014-11-01 |
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