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The opportunities of Rutherford backscattering spectroscopy for analysis of multilayer nanometer thin film structures 卢瑟福背散射光谱在多层纳米薄膜结构分析中的应用前景
相关领域
卢瑟福背散射光谱法
材料科学
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分析化学(期刊)
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期刊: 作者:В. И. Бачурин; N. S. Melesov; E. O. Parshin; Alexander Rudy; Oleg Trushin; et al 出版日期:2019-03-15 |
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