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HV ESD Device Solution Evaluations in 55nm BCD Technology |
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期刊:2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 作者:Sagar P Karalkar; Milova Paul; Xiao Mei Elaine Low; Kyong Jin Hwang; Robert Gauthier 出版日期:2021 |
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