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 Nanoscale Infrared Spectroscopic Characterization of Extended Defects in 4H-Silicon Carbide 4H-碳化硅扩展缺陷的纳米红外光谱表征
相关领域
材料科学
傅里叶变换红外光谱
表征（材料科学）
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期刊：Nano Letters 作者：Scott G. Criswell; Nadeemullah A. Mahadik; James C. Gallagher; Julian Barnett; Luke Kim; et al 出版日期：2024-01-02 |
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