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 Identification of MOSFET Working State Based on the Stress Wave and Deep Learning 基于应力波和深度学习的MOSFET工作状态识别
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Yun Bai; Songyuan Liu; Yunze He; Liang Cheng; Fei Liu; et al 出版日期：2022-01-01 |
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