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Influence of dielectric layer thickness on charge injection, accumulation and transport phenomena in thin silicon oxynitride layers: a nanoscale study 相关领域
材料科学
电介质
氮化硅
光电子学
纳米尺度
薄膜
图层(电子)
载流子
硅
复合材料
纳米技术
氮化硅
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期刊:Nanotechnology 作者:Florian Mortreuil; Laurent Boudou; Kremena Makasheva; G. Teyssèdre; Christina Villeneuve-Faure 出版日期:2020-10-21 |
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