| 标题 |
Angle and wavelength resolved light scattering measurement of optical surfaces and thin films |
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10.1117/12.2024144
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期刊:SPIE Proceedings 作者:Sven Schröder; David Unglaub; Alexander von Finck; Matthias Hauptvogel; Marcus Trost; et al 出版日期:2013-09-07 |
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(2025-6-4)